產(chǎn)品分類PRODUCT

我們相信好的產(chǎn)品是信譽(yù)的保證！

分析儀器

導(dǎo)熱系數(shù)儀實(shí)驗(yàn)室分析儀近紅外分析儀近紅外氣體分析儀紅外光譜儀監(jiān)測儀近紅外微型過程分析儀手持分析儀熒光載玻片校準(zhǔn)微孔板超分辨率系統(tǒng) 鐵粉檢測儀氣體探測器離子槍多探針分析系統(tǒng) 熱解吸光譜儀電子槍電子能譜儀俄歇能譜儀電子衍射儀電子能量損失譜儀乙烯爐管檢測螺紋測量系統(tǒng) 定子檢測系統(tǒng) 濾膜過濾器

查看全部

相關(guān)文章ARTICLES

做良心企業(yè) 創(chuàng)誠信品牌

詳細(xì)介紹

品牌	其他品牌	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,能源,電子,電氣,綜合

美國 IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀

HREELS高分辨電子能量損失譜儀在分辨率和信號水平方面表現(xiàn)的全球，現(xiàn)在結(jié)合我們的多通道分析儀選件（EA5000MCA），可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集速度。用于研究表面分子振動(dòng)，表面聲子和等離子體以及電子能級和能帶隙。

圖片1.png

超高分辨率0.5 meV FWHM
在1.0 meV分辨率（FWHM）下保證探測器電流大于或等于10pA
采用具有可控角度像差的新型靜電偏轉(zhuǎn)器
具有菜單驅(qū)動(dòng)軟件的低噪聲數(shù)字控制電子設(shè)備
用戶可選擇的掃描范圍高達(dá)50 eV，適用于電子振動(dòng)/電子應(yīng)用

EELS原理

當(dāng)入射電子束照射試樣表面時(shí)，將會發(fā)生入射電子的背向散射現(xiàn)象，背向散射返回表面的電子由兩部分組成，一部分沒有發(fā)生能量損失，稱為彈性散射電子，另一部分有能量損失，稱為非彈性散射電子?！ぴ诜菑椥陨⑸潆娮又校嬖谝恍┚哂幸欢ㄌ卣髂芰康亩硇娮?，其特征能量只同物質(zhì)的元素有關(guān)，如果在試樣上檢測這些俄歇電子的數(shù)目按能量分布，就可以標(biāo)定物質(zhì)的各元素組成，稱為俄歇電子能譜分析技術(shù)。

如果其特征能量不但同物質(zhì)的元素有關(guān)，而且同入射電子的能量有關(guān)，則稱它為特征能量損失電子。

如果在試樣上檢測能量損失電子的數(shù)目按能量分布，就可獲得一系列譜峰，稱為電子能量損失譜，利用這種特征能量電子損失譜進(jìn)行分析，稱為電子能量損失譜分析技術(shù)。

圖片2.png

EELS理論

對低能電子能量損失譜的解釋工作是建立在非彈性散射理論上。

如果入射電子從具有兩維周期性晶格結(jié)構(gòu)的表面散射回來時(shí)經(jīng)歷了—個(gè)非彈性散射過程，它將損失部分能量。

美國 IK-TECHNOLOGIES 高分辨電子能量損失譜儀的應(yīng)用

EELS譜可做包括氫在內(nèi)的指紋鑒定，也可做表面結(jié)構(gòu)分析。在指紋鑒定時(shí)只要參照被分析原子的紅外吸收光譜，將電子能量損失譜跟紅外吸收譜進(jìn)行比較就能做出鑒定。

關(guān)于結(jié)構(gòu)分析，它所給出的信息是關(guān)于微區(qū)的，局域的，這與LEED不同，LEED所處理的問題是長程有序表面的結(jié)構(gòu)。對樣品的破壞作用小，適合研究氣體在固體表面的吸附。而且對吸附有很高的靈敏度，可以對<0.1%單原子層的吸附做常規(guī)分析，這些分析包括化學(xué)物品在表面的吸附及吸附層在化學(xué)反應(yīng)過程中所產(chǎn)生的中間物的鑒定。

它的應(yīng)用包括研究固體上的催化反應(yīng)，金屬表面的腐蝕等。

產(chǎn)品咨詢